目前，隨著半導體照明產業的快速發展，國際間相當重視LED測試標準的制訂。如美國國家標準檢測研究所（NIST）正在開展LED測試方法的研究，準備建立整套的LED測試方法和標準。日本也成立了「白光LED測試研究委員會」，專門研究照明用白光LED的測試方法和技術標準。
世界發達國家為了搶佔LED先機，在LED標準和測試方面都投入了大量的人力物力，在標準方面注重選擇LED特性參數及測試方法研究。同時，許多國外大公司的研究和開發人員正在積極參與國家和國際專業化組織，制訂半導體照明測試標準。比方說過去美國Lumileds與日本Nichia就宣佈過雙方進行各自LED技術的交叉授權，并準備聯合制訂功率型LED標準，以推動市場應用。
照明LED標準及檢測技術的現狀 國際照明委員會（CIE）和國際電工委員會（IEC）都沒有關于LED照明的標準。嚴格地說，國外目前沒有專門命名為半導體照明的標準，只有有關普通LED的測試標準和與普通光源有關的照明方面的標準。普通LED的測試標準有：
1.IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)
IEC60747-5半導體分立器件及積體電路
2.IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)
IEC60747-5-2分立半導體器件及積體電路零部件5-2：光電子器件—分類特徵及要素(1997-09)
3.IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)
IEC60747-5-3分立半導體器件及積體電路
零部件 5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)
4.IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)
IEC60747-12-3半導體分立器件12-3：光電子器件—顯示用發光二極體空白詳細標準（1998-02）
5.CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
CIE127-1997 LED測試方法（1997）
6.CIE/ISO standards on LED intensity measurements
CIE/ISO LED強度測試標準
國際照明委員會（ CIE）1997年發表 CIE127-1997 LED測試方法 ， 把 LED 強度測試確定為平均強度的概念，并且規定了統一的測試結構和探測器大小，這樣就為 LED 準確測試比對奠定了基礎。雖然CIE 127－1997 測試方法 并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業都已采用。 但是隨著技術的快速發展，許多新的 LED技術特性 CIE127-1997 LED測試方法沒有涉及。
現在市場上有新的發展，日本更是努力要打造出完整的LED標準來，隨著相關標準越來越明確，LED產業的發展將更為穩定。
